产品名称:微量天平/双量程分析天平

    品牌:欧洲RADWAG瑞德威

    型号:XA6/21.4Y.M.A XA21/51.4Y.M.A

    产品参数

    • XA 6/21.4Y.M.A:量程6/21g,精度1ug/2ug,内校,称盘尺寸?50mm; XA 21/51.4Y.M.A:量程21/51g,精度1ug/5ug,内校,称盘尺寸?50mm; XA 6/21.4Y.M:量程6/21g,精度1ug/2ug,内校,称盘尺寸?50mm; XA 21/51.4Y.M:量程21/51g,精度2ug/5ug,内校,称盘尺寸?50mm;

    产品详情

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    欧洲RADWAG瑞德威XA6/21.4Y.M.A微量天平XA21/51.4Y.M.A双量程分析天平
    产品选型:
    XA 6.4Y.M.A:量程6.1g,精度1ug,内校,称盘尺寸ø30mm
    XA 6/21.4Y.M.A:量程6/21g,精度1ug/2ug,内校,称盘尺寸ø50mm
    XA 21.4Y.M.A:量程21ug,精度1ug,内校,称盘尺寸ø50mm
    XA 21/51.4Y.M.A:量程21/51g,精度1ug/5ug,内校,称盘尺寸ø50mm
    XA 51.4Y.M.A:量程51g,精度5ug,内校,称盘尺寸ø50mm
    XA 6.4Y.M:量程6.1g,精度1ug,内校,称盘尺寸ø30mm
    XA 6/21.4Y.M:量程6/21g,精度1ug/2ug,内校,称盘尺寸ø50mm
    XA 21.4Y.M:量程21ug,精度2ug,内校,称盘尺寸ø50mm
    XA 21/51.4Y.M:量程21/51g,精度2ug/5ug,内校,称盘尺寸ø50mm
    XA 51.4Y.M:量程51g,精度5ug,内校,称盘尺寸ø50mm
    技术参数:
    称重量程:6.1g、6/21g、21g、21/51g、51g
    读数精度:1ug、1/2ug、2ug、1/5ug、2/5ug、5ug
    MIN称:100ug、100ug、200ug、200ug、500ug
    检定分度值:1mg
    去皮范围:-6g、-21g、-21g、-51g、-51g
    重复误差:1.5ug(Rt≤1g) 2.5ug(1g<Rt≤6.1g)、
                1.5ug(Rt≤1g) 2.5ug(1g<Rt≤6.1g) 3.5ug(6g<Rt≤21g)、

                2ug(Rt≤1g) 3.5ug(1g<Rt≤21g)、
                3ug(Rt≤2g) 4ug(2g<Rt≤21g) 6ug(21g<Rt≤51g)、
                4ug(Rt≤2g) 6ug(2g<Rt≤51g)
    线性:±7ug、±9ug、±9ug、±20ug、±20ug
    偏载误差:7ug、15ug、15ug、20ug、200ug
    温度灵敏度漂移:1x10-6/℃xRt
    时间灵敏度漂移:1x10-6/YearxRt
    MIN称(U=1%, k=2):0.3mg、0.3mg、0.4mg、0.6mg、0.8mg
    MIN/样品重量:3mg、3mg、4mg、6mg、8mg
    稳定时间:3.5s
    校准方式:全自动内校
    验证:有
    OIML等级:I
    显示屏:5.7寸彩色电阻触摸屏
    显示器连接:35 cm cable,选配无线连接
    面板按键:8个
    防护等级:IP43
    数据库:19个
    无接触操作:2个近距离传感器
    接口:USB 2个、RS232 2个、100M以太网、WIFI、4个IO
    电源:13.5~16VDC,10W
    工作温度:+10℃~+40℃
    相对湿度:40~80%
    存储温度:-20℃~+50℃
    称盘尺寸:ø30mm,ø50mm
    称量室尺寸:199x170x217mm
    天平尺寸:570x253x300mm
    包装尺寸:720x385x485mm
    净/毛:14.5/18.9kg
    产品特点:
    XA 4Y.M.A微量天平是高称量精度,重复性好,符合USP要求;
    简洁的操作和5.7彩色触摸屏直观操作;
    两个红外距离传感器可直接访问设定的功能无需接触就可以执行;
    秤盘屏蔽环可以有效的减少气流对称量的影响;
    振动传感器可消除由地面振动引起的称量误差
    自动开关门的平顺性和静音性,防止由开门引起的振动影响称量结果,还可自定义开门的宽度。;
    可以自定义天平的配置,适应、匹配环境及用户习惯等;
    数据管理:大存储容量允许记录所测量的数据存储形成复杂的报告和统计图表的形式。